-30至150℃低温半导体黑体源|黑体校准源|黑体辐射源|红外校准
详细信息
| | 品牌：凯博瑞 | | 型号：SW-DT-R70 /150 | | 加工定制：是 | |
| | 外形尺寸：可定制 mm | | 重量：可定制 ㎏ | | 用途：热成像校准 | |
产品型号：
低温半导体系列SW-DT-R70 /150
支持非标定制：公司型号较多，如选型麻烦，欢迎致电联系
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SW-DT-R 系列低温黑体校准源覆盖-30°C至150°C宽广温区，为低温至中温校准场景提供全面支持。依托内置智能PID控制器，设备实现温度稳定性与均匀性，稳定时间仅需10分钟，控温精度达±0.1°C。并且支持远程控制与数据记录功能，用户通过专用软件即可实现实时监控与历史数据分析，进一步提升校准工作的效率与管理便捷性。
在结构设计上，该系列集成热电加热/制冷装置与微型压缩机散热技术，通过紧凑化设计提升使用便捷性。控制系统搭配友好直观的操作界面，降低操作门槛。同时，设备具备自动故障诊断功能，可及时提示维护调整需求，保障运行连续性。
一、应用领域
- 测温仪，热像仪温度校准
- 光谱分析仪校准
- 光电校准系统
- 辐射计、热流量计校准
二、设备特点
- 升降温速度快
- 结构便携
- 温度可多点黑体温度修正
三、设备参数
| 型号 |
SW-DT-R70 |
SW-DT-R150 |
| 温度范围 |
-30 - 60℃ |
-20 - 150℃ |
| 稳定度 |
±0.3℃ /8h |
±0.3℃ /8h |
| 辐射率 |
＞ 0.96@ 8 - 14μm |
0.97±0.02 |
| 精度 |
±0.3% ±1℃ |
±0.3% ±1℃ |
| 校准方法 |
辐射校准 |
辐射校准 |
| 开孔直径 |
Ф100mm |
Ф50mm |
| 加热时间 |
5℃/min |
5℃/min |
| 重量 |
20kg |
5.6kg |
| 尺寸 |
宽485*高320*深405mm |
宽280*高180*深270mm |
| 电源 |
230V |
230V |
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