半球发射率测量仪 ——美国D&SAE1&RD1

半球发射率测量仪 AE1&RD1——美国D&S
半球发射率测量仪AE1 RD1是用于测量发射率的专用仪器。低温加热被测样品，仪器通过探测器接受样品材料表面辐射出来的红外能量后换算出发射率，根据设定的标准体发射率准参数，计算并读出被测样品发射率。符合《ASTM C1371》、《JG_T 235-2014 建筑反射隔热涂料》、《GBT 25261-2010 建筑用反射隔热涂料》等国家标准，是建筑涂料行业，新能源材料研究，航空航天材料研发检测的必须品。
 
产品特点：
         重复性高，重复精度达到±0.01发射单位；
         易于操作：仪器的检测器部分已电加热，因此不必额外加热样品，也无需温度测量。根据高发射率标准体提前设定发射率标准参数，测量仪仅对辐射热传输响应并输出电压，和发射率成线性关系，通过可调旋钮设定发射率读数与标准体的发射率一致，通过校准后，当测量被测样品时，检测仪便可直接读出发射率。
         快速测量：在大约30分钟的初始预热器。期后，可以每隔半分钟读取一次发射率读数，使得测量结果变得实时可观。
         高性价比：该仪器简便小巧，性价比高，比同期其他方法的测量设备成本更低，维护更简单。
 
 
技术参数：
         读数 器:  D&S 微型数字伏特计，型号RD1。
         输   出:    材料温度为25℃时，2.4 毫伏通常对应材料发射率为0.9
         线   性:    检测器输出和发射率成线性关系，精度为±0.01发射单位。
         测量时间： 10s
         加热装置：加热被测样品，使其在与标准体温度相同的情况下被测量
         样品温度：*大130华氏度，约为55℃
         漂移：    输出可能会随着环境而变化，但是在短时间测量内可以忽略不计。
         标准体：  提供两个高发射率标准体和两个地发射率标准体，其中一套标准可用来测量时使用，另一套标准体备用并作为参比。
         电源：100-240V/50-60Hz，12V直流输出
         测量波长：3——30μm
         测量范围：0——1
         测量精度：±0.01
         被测样品尺寸：Min Φ5.7cm (可选配Φ2.54cm样品探测器)
         测量温度：10℃——55℃
         外形尺寸：探测头Φ57X107mm，测量台 H46mm×宽105mm×D152mm
         标准配置：AE1探测头，高发射率标定块和低发射率标定块各2个，发射率测量仪，电源线，CD教学视频、校准证书、操作手册、手提箱。
 
 
     选配：
             AE-AD3测量模块 : 测量直径Min 2.54cm
             AE-ADP: 测量适配器，可测量小至Φ3.8cm的扁平材料以及低导热、大曲率圆柱表面或者粗糙结构表面的样品材料。